賽默飛ELEMENT XR? ICP-MS 質譜儀_上海禹重實業有限公司

品牌：賽默飛

規格：正常規格

產地：美國

Thermo ScientificTMELEMENT XR高分辨電感耦合等離子體質譜儀可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度範圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有幹擾的同位素；的確信不含幹擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；並能與多種進樣和分離技術聯用，例如激光進樣。目前，已經安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務於環境監測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。

ELEMENT XR主要特點：

· 線性範圍寬：線性範圍達12個數量級，不同模式自動切換校正；

· 靈敏度高：可使用賽默飛新的Jet接口技術，提供無與倫比的靈敏度；

· 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，採用高分辨率可直接分析有質譜幹擾的同位素。

目前市場上電感耦合等離子體質譜儀( ICP - MS)絕大多數為四極桿型的ICPMS，波譜幹擾是其的主要局限。作為等離子體氣的氬氣、水、酸和樣品基體本身結合在一起會產生各種各樣寬範圍的多原子聚離子，這種幹擾聚離子可能擁有和目標元素相同的質量數，導致在表面上目標元素的濃度不合實際地高。有好幾種方式被用於減少或回避這種波譜幹擾的形成。包括運用數學校正、特殊的樣品導入係統、特殊的等離子體參數和碰撞/動態反應池來壓制部分的幹擾，但是如果樣品的基體比較復雜時，這種幹擾就很難被。因此高分辨等離子質譜儀(HR-ICP -MS)應運而生，具有高分辨率的雙聚焦磁質譜儀的之處在於簡單地利用幹擾和目標元素的質量數之間的微弱差別，無需知道幹擾是什麼，來自何方？高10000高分辨分析能力，能有效由等離子體、水以及基體元素所產生的多種幹擾。