絕緣阻力電阻試驗測試_深圳市世紀天源儀器有限公司

可對離子遷移?絕緣電阻值進行?高信賴性?率的評價。

從當今的地球?市場環境來看，省能源?鉛/無鹵素?小型輕量?低價格?高信賴等觀點出發的，

新素材?新實裝方法的研究開發?評價方法的重估是的。

J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，

新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100係列。

簡介：離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流

電壓（BIAS VOLTAGE）,經過長時間的測試（1～1000小時）並觀察線路是否有瞬間短路的

現象發生（ION MIGRATION）,並記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）

適用規格：JPCA-ET01-2001

項目		規格?性能?其他
體	型式	ECM-100/40-n　　　　　(n:Channel數)		ECM-100/100-n　　　　　　(n:Channel數)
	體型式	40CH型（大4計測組合）		100CH型（大10計測組合）
	體寸法	265W×330.3D×405H（突起部除外）		417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
	消費電力	大約70VA（4計測組合實裝時）		大約130VA（10計測組合實裝時）
	重量	大約16kg（4計測組合實裝時）		大約25kg（10計測組合實裝時）
	使用電源	AC100V　50/60Hz
計測　組合	計測Channel數	10CH
	計測電阻值範圍	2kΩ～10TΩ
	DCbias印加	電壓範圍	2範圍　（1.0～30.0V，30.1～300.0V）
		電壓範圍設定	1組（5CH）
		電壓級別設定	Channel個別
		設定分解能	0.1V
		設定精度	±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
		大輸出電流	700μA／CH
	DCbias計測	計測範圍	2範圍（0～33V、0～330V）
		計測精度	±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
		計測分解能	0.1V～（整數+小數點以下１行表示）
		AD轉換器	24bits⊿ AD轉換器／CH
		計測速度	16msec／10CH
	電流計測	計測方式	CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式
		計測範圍	5範圍（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA）
		計測範圍設定	CHANNEL個別指定或者　自動範圍
		計測精度	±0.3％（F.S.）
		計測分解能	1pA～（有數字4行表示）
		AD轉換器	24bits⊿ AD轉換器／CH
		計測速度	16msec／100CH
Ｃ　Ｐ　Ｕ　組合	制禦Channel數	5～100CH（5Channel 位）
	數據收錄	試驗制禦位	1組（5CH）
		試驗設定小時	1分～9999小時
		收錄間隔（定期）	1分～60分
		收錄間隔（ECM發生時）	16msec
		記錄媒體	Compact flashcard
	其他	主PC通信機能	LAN接觸口×1
		環境試驗機通信機能	RS-232C接觸口×2
		外部輸入1	接點輸入×4　（聯動裝置，緊急停止制禦可）
		外部輸入2	電壓輸入(1-5V)×2，電流輸入(4-20mA)×2　（溫度?濕度記錄可）
		自動校正	bias輸出補正，異常leak電流檢測
計測線		由於制品的改良?改善，我們可能會對規格和外等進行更。敬請原諒。 TRIAXIAL線　（耐熱溫度：200度，被膜材質：特氟隆樹脂）

詳細請聯係：深圳市世紀天源儀器有限公司