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平面平晶檢測幹涉儀

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詳細信息

                                                                                (1)應用領域

領域(平面平晶檢測),

半導體工業(晶片檢測),

大平板顯示(平面檢測),

手機工業(背板檢測),

光學加工(窗口玻璃檢測),

精密機械(平面元件檢測),

LED工業(藍寶石襯底檢測),

數據存儲和科研院校教學儀器等多種領域。

平面平晶、窗口玻璃、光學平面、金屬平面、陶瓷平面等 光滑表面面形的快速測量,90°直角棱鏡和角錐測量。


                                                              (2) 產品綜述

無應力平面檢測幹涉儀是模塊化組合檢測幹涉儀中的一種,

它採用組合式激光幹涉儀作為核心部件,主要用於檢測平面。

該產品包括光源、主機、成像以及鏡頭和相移等四大模塊,主要技術指標已達到國際水平, 採用更加簡便操作的俯式測量,擁有的測量精度和測量重復性,

突破了一等平面平晶限制,且其採樣點可達上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。 不僅測量精度高,而且具有的測量效率。

此款幹涉儀可廣泛應用光學元件制造、計量檢測、生物醫學、

航空航天、國防、微電子、能源等眾多領域 具有廣闊的市場前景。

                                                            (3) 參數性能

測量原理:

斐索幹涉原理

光源波長:

632.8nm

樣品準直:

使用兩個光點

電源:

220V 50HZ /11 0V 60HZ

操作係統:

Windows7/10, 32/64bit

CCD分辨率:

1280*960像素

軟件:

H&L-p數字化相移分析軟件

精密度:

/600 PV

重復性:

/500 PV

重復性:

/1000 RMS

透射平面鏡精度:

A/20 PV




聯係方式
  • 聯係人: 汪小姐 女士
  • 職位: 銷售
  • 真: 00-傳真號碼
  • 電話: 021-20962769
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