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Metavision-MX+型移動式直讀光譜儀

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詳細信息

metavision-MX+移動式直讀光譜儀在提供高質量性能的同時,還具備移動式直讀光譜儀的所有靈活性、敏捷性和便利性。metavision-MX+的多CMOS光學器件覆蓋了高達671nm的整個分析範圍,涵蓋了55種以上的元素(包括鋰和鈉的分析),並具有高的分辨率。


通常情況下,需要對鍋爐、架空管道或船上特定部件等項目進行測試。無論是測試等級還是測試應力、疲勞、腐蝕跡象或故障風險,此類測試都要求進行高  精 度分析,而實驗室測試的典型流程並不適合進行此類測試。metavision-MX+移動式直讀光譜儀在提供高質量性能的同時,還具備移動式直讀光譜儀的所有靈活性、敏捷性和便利性。metavision-MX+的多CMOS光學器件覆蓋了高達671nm的整個分析範圍,涵蓋了55種以上的元素(包括鋰和鈉的分析),並具有高的分辨率。

metavision-MX+有多種適配器和探頭可供選擇,可確保以很少的麻煩滿足各種需求。事實上,我們的組合式探頭選件可確保大限度地減少現場更換探頭的需要!只需點擊兩下,您就可以在幾秒鐘內現場更換探針。碳分析所有探頭(包括弧形探頭)均可進行碳分析。

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結合了直讀光譜儀技術與用戶友好的便攜功能相結合

可調式後軸,移動更方便

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在電源內嵌槽內提供第二個槽孔、可將設備容量增加一倍,並實現 2倍 疊加

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無需工具即可拆卸/重新安裝模塊;設計便於在小型汽車後備箱中運輸!

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將移動式 OES 變為臺式直接通過主電源操作

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探頭選項

這兩種移動式 OES型號均可與一係列探頭配對使用,這些探頭經過精心設計,可提供高  精  度和高可靠性。這些探頭經過精心設計,不僅具有高  精  度和準確度這些探頭經過精心設計,不僅精度高、準確度高,而且便於現場對材料進行方便快捷的分析,適用於廣泛的鐵和有色金屬應用。這些探頭可在苛刻的條件下使用可在任何角度下操作,配有各種適配器,適用於各種形狀、形式和尺寸的樣品,並配有堅固的外殼,可保護內部組件免受外部因素的影響,例如外部因素,如 熱、潮濕和機械應變等外部因素的影響。

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聯係方式
  • 聯係人: 徐建軍 先生
  • 電話: 010-56370027
  • 手機: 13621224287
  • 地址: 北京市 北京市北京經濟技術開發區(通州)興貿一街7號院1號樓1層101
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