●高速、測量 LD
●高速測量選項: 0.5 s
●窄相幹測量分辨率:0.001 毫米
●十倍以上的高波長精度:±0.01 nm(選件)
●高波長分辨率選項: 0.01 nm,波長 650 nm
●測量波長範圍廣: 350 納米至 1000 納米
●小巧輕便的平臺
高通量能力
Q8341 是一款用於可見輻射的光學頻譜分析儀,波長範圍為 350 nm 至 1000 nm。
Q8341 採用帶有邁克爾遜幹涉儀的傅立葉光譜係統,因此可以測量相幹性。
Q8341 的窄波長分辨率為 0.01 nm,不僅對 CD/DVD 激光二極管,而且對藍紫色激光二極管的評估都非常有效。
此外,內置的 He-Ne 激光器可作為波長基準,確保 ±0.01nm 的高波長測量精度。
後,Q8341 具有 0.5 秒*的快速測量速度,是評估係統元件溫度特性的理想之選。
●相幹測量分辨率: 0.001 毫米
●波長分辨率(650 納米):
0.05 nm(標準),0.01 nm(選件)
峰值波長的測量分辨率為 0.001 nm
●波長測量精度:
±0.05 nm(標準),±0.01 nm(選件)
●大輸入電平:±10 dBm
●大 相幹測量長度:
約 10 毫米(標準),約 40 毫米(選件)
●波長測量範圍 350 至 1000 納米
●體積小、重量輕
測量原理
Q8341 採用邁克爾遜幹涉儀。在這種安排中,來自被測設備的光被分割成兩條路徑(在兩條路徑之間產生幹涉)。
由此產生幹涉圖。橫軸表示兩條光路的長度差(即時間或相位)。而縱軸則表示幹涉光強度。
這就是被測設備的自相關性。對該函數進行 FFT 處理,就能得到功率譜。為此,我們使用 He-Ne 激光器作為波長參考源。
特點
高速測量選項: 0.5 s.
制造/生產環境的理想之選 Q8341 可在約 0.5 秒內測量整個跨度。這一特性使 Q8341 成為激光和發光二極管生產線的理想之選。
此外,這種快速測量速度也非常適合高產能環境。
出色的相幹分析長度
分析長度 大約 40 毫米(選件)
大約 10 毫米(標準)
大長度分辨率 0.001 毫米
Q8341 還能評估光盤激光二極管的相幹性。Q8341 分析長度長達 40 毫米,分辨率窄至 0.001 毫米,適合評估藍紫色激光二極管和其他緊湊型光學元件。
高波長精度
波長精度:±0.01 nm(選配),±0.05 nm(標準)
Q8341 內置 Ne-He 激光參考光源,可實現高波長精度的光譜測量。
窄分辨率測量藍紫色激光二極管的振蕩模式
波長分辨率(650 nm 時):
0.01 nm(選配)
0.05 nm(標準)
Q8341 具有窄分辨率,可分離藍紫色激光二極管的振蕩模式。此外,峰值波長的測量分辨率為 0.001 nm,非常適合監測受 DUT 環境影響的測量結果。
用於高通量測量
Q8341 採用大容量內存和計算單元,可快速存儲數據。然後,計算單元對這些數據進行計算,以顯示指定的波長和跨度。
例如,如果 Q8341 要分析兩個波長範圍(650 nm ±50 nm 和 780 nm ±50 nm)的光譜,則只需改變其顯示範圍即可執行兩個不同 LD 的光譜分析。
所有這些都無需重新配置係統即可完成。因此,Q8341 縮短了批量生產係統使用的索引時間。