光學測量儀器和光學設備測試係統
可進行相幹測量的光頻譜分析儀
■相幹測量
■1.5 秒/掃描的高速測量
■波長範圍寬,從 0.35 微米到 1.75 微米
■波長測量精度為 0.1 納米
Q8344A 是一款光學光譜分析儀,波長範圍寬達 0.35 至 1.75 ?m。
通過使用邁克爾遜幹涉儀的傅立葉光譜係統,可以分析使用單色器的分散光譜係統無法獲得的相幹性。
它展示了評估光盤和視頻磁盤激光二極管的能力。
光學測量儀器和光學設備測試係統內置 He-Ne 激光器用作參考波長,波長精度為 ± 0.1 nm (1.3 ?m),即使不進行波長校準,也能確保長期測量的穩定性。
Q8344A 的大波長分辨率為 0.05 nm(0.85 ?m),適合測量模式間隔較窄的激光二極管。
測量速度約為 1.5 秒(0.4 至 1.05 ?m 和 0.8 至 1.75 ?m),與分析跨度無關,因此可作為係統組件使用。
Q8344A 具有多功能顯示、分析和處理功能,可用於各種元件的特性測量應用,從激光二極管和 LED 等發光元件到光纖和濾波器等光學元件。
相幹測量
由於 Q8344A 使用邁克爾遜幹涉儀,因此可用於相幹性測量。通過這一功能,可以輕松評估視頻磁盤激光二極管回光引起的噪聲抑制性能。
分析範圍約為±10 毫米,可以測量光纖陀螺使用的 SLD(超級發光二極管)的相幹長度。
1.5 秒/掃描的高速測量
非常適合生產應用
Q8344A 採用傅立葉光譜係統,因此無論測量跨度和靈敏度如何,都能在 1.5 秒內完成測量(前提是起始波長為 0.4 ?m 或更長,且測量不同時覆蓋短波長和長波長)。
因此,該分析儀適用於在生產線上測量激光二極管和發光二極管。此外,還可用於評估光纖和濾波器的傳輸和損耗特性。
作為係統組件使用時,分析儀只需 1.5 秒即可完成觸發、測量和數據輸出,地提高了係統吞吐量。
波長測量精度為 ± 0.1 nm
使用內置 He-Ne 激光器作為參考光源,測量波長精度高達 ± 0.1 nm(波長為 1.3 ?m)。
因此,無需波長校準即可進行的波長測量。
大波長範圍為 0.05 nm
Q8344A 在短波長(0.85 ?m)時的大分辨率為 0.05 nm,因此可以通過逐個完全解析振蕩模式來測量 CD 和可見光激光二極管。
大口徑光纖輸入(選件)
可選配 200 ?m 大口徑輸入。在分析波長大於標準光纖口徑(GI 50 ?m)的設備時,需要使用該選件。
對於激光二極管分析,建議使用標準 50 ?m 規格,而對於 LED 分析,建議使用此選配規格。