你好,歡迎來到世鋁網 [請登錄] [免費注冊]
世鋁網 鋁業設備
您當前的位置: 世鋁網 鋁業設備 其它 Advantest Q8381A 光學頻譜分析儀 2

Advantest Q8381A 光學頻譜分析儀

加入收藏 舉報
詳細信息

光學測量儀器和光學設備測試係統

甚至解決了脈衝光測量的問題

Q8381A

寬波長範圍: 0.35 至 1.75 ?m

極化依賴性低:± 0.1 dB 或更低

高輸入靈敏度:-85 dB

的脈衝光測量功能

功率監控功能

多功能記憶功能

Q8381A

光學頻譜分析儀

Q8381A 光頻譜分析儀可分析 350 至 1750 nm 的寬波長帶和 -85 至 +10 dBm(1.1 至 1.6 ?m)的寬動態範圍,適用於 LED 顯示屏和通信光設備的測量。

此外,ADVANTEST 的技術實現了低偏振依賴性和 ± 1.5 dB 的高水平測量精度。

除了自動佳測量條件設置、自動峰值搜索和半值寬度測量功能外,

Q8381A 還具有脈衝光測量功能、功率監控功能和亮度補償顯示功能,從而提高了操作和分析能力。

在傳統的脈衝光測量中,即使進行多次求平均值並獲得佔空比的平均功率,也可能導致電平過低和數據丟失。Q8381A 解決了所有這些問題。

高靈敏度的寬波長測量

Q8381A 可以 -85 dBm 的高靈敏度測量 1.1 至 1.6 ?m 的寬波長範圍。

因此,可以在寬動態範圍內對來自摻鉺光纖放大器(EDFA)的自發輻射光進行電平測量,並結合白光光源進行波長特性測量。

寬動態範圍測量

通過大限度地降低環境光照度,Q8381A 實現了寬動態範圍,與峰值波長相比,1 nm 時為 40 dB,5 nm 時為 50 dB。

這種性能水平非常適合測量 DFB 激光二極管的側模抑制比。

高速測量

在正常模式下,Q8381A 可以在 0.8 秒或更短的時間內實現高速測量(跨度為 200 nm),從而可以地測量光譜變化。

在調整濾光片中心波長時,它可以通過標記間掃描進行實時測量。

低偏振依賴性確保了

電平測量

憑借 ADVANTEST 的技術,Q8381A 的電平測量精度可達 ± 1.5 dB,所有波段的偏振相關性低至 ± 0.1 dB。

波長靈敏度特性也在所有波段得到補償,從而實現了更的電平測量。

的脈衝光測量

迄今為止,脈衝調制光信號的光譜都是在平均後測量的。然而,測得的光譜可能低於實際發光電平,或出現數據丟失。

為了解決這個問題,Q8381A 提供了兩種測量模式: 脈衝掃描模式和門控測量模式。

功率監控功能

使用光學頻譜分析儀分析光束時,需要與光纖耦合。傳統方法是將光束送入分析儀,同時使用光功率計監測耦合情況。

Q8381A 的功率監控功能與光功率計的使用方法相同。


聯係方式
  • 聯係人: 包文傑 女士
  • 職位: 經理
  • 電話: 0592-18144100983
  • 手機: 18150137010
  • 址: 福建省 廈門市 福建省廈門市集美區灌口鎮安仁大道1055號五層之十
公司簡介
還沒找到合適的產品?
  • 01
  • 快速發布求購信息
  • 下一步
  • 03
  • 聯係cnal客服:
  • 致電: 0371-63388900
    馬上啟動您的快速採購通道!