15J測量顯微鏡
用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用範圍極廣,用途如下:
1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。
2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規、鑽孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
主要規格
放大倍數:25X、100X
X軸移動測量範圍 50 mm
Y軸移動測量範圍 13 mm
測微器分度值 0.01mm
測量臺轉動範圍不限
測量臺刻度盤分度範圍 0°-360°
測量臺刻度盤之分度值 1°
測量臺刻度盤遊標讀數示值 6’
測量精度
儀器示值誤差:±(5+L/15)μm
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器係統誤差
注:測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)
儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間之大距離 80mm
測量工作臺直徑 120mm
儀器外形尺寸 262×220×325mm