1.設備應具有國際上同行業中近年內的先進設計、制造水平，採用新的工藝、新材料、新技術(專有技術)，通過國際GEAE認證。 2.具有成熟的盤環件超聲C掃描檢測係統研制經驗，且有成熟的盤環件檢測係統應用案例，如用戶清單、客戶使用滿意度等的證明材料。 3.設備能進行盤環件的多區位檢驗，該係統應具有SPC型面跟蹤和底波監控功能。C掃與底波監控同時進行。 *技術要求： 1.係統帶寬：1Khz-50Mhz（-3db） 2.X軸定位精度：±0.1mm/m；Y軸定位精度：±0.1mm/m；Z軸精度： ±0.1mm/m 3.X軸重復定位精度： ±0.05mm；Y軸重復定位精度： ±0.05m；Z軸重復定位精度：±0.05mm 4.對於一般盤件檢驗，能檢出 0.4mm的平底孔;對於粉末冶金盤件檢驗，能檢出 0.4mm-18dB的平底孔;對於環件檢驗，能檢出 0.4mm的平底孔。
產品規格︰ 頻率範圍： 0.4-20MHz
增益範圍： 0-120dB，0.1,2.0,6.0dB步進
動態範圍： 32dB
垂直線性： <3%
水平線性： 1m內為0
掃描範圍： 0.5-10000mm
分 辨 率： >40dB
靈敏度餘量： >62dB
工作模式：單/雙、穿透
脈衝發生器：可變脈衝發生器
阻尼：50/100/400Ω自動匹配
檢波方式：半波/射頻
抑制：0~99%線性抑制
顯示環境溫度：-20~50℃
充電器：220~240V交流輸入
豫公安備 41010502000017號