FEI QUANTA係列掃描電鏡電子顯微鏡

FEI QUANTA?產品係列包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM?）和兩個DualBeam?係統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科學實驗室和生命科學實驗室的成像要求。Quanta係列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，儀器與任何SEM係統的樣本，以適應範圍廣的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析係統，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡係統。

FEI QuantaTM 可用於研究各種材料並表徵材料的結構與成分，同時提供無與倫比的靈活性，提高了性能與通用性，可應對當今廣泛研究領域的各種挑戰，滿足多方需要。觀察樣品，獲取所有相關數據：將顯微鏡附件與表面形貌和成分圖像結合使用，確定材料特性及其化學元素組成。

導航功能包括自動 Montage 導航、樣品臺移動雙擊控制、拖放變焦和其他有用的標準結合功能。SmartSCANTM 技術採用智能掃描策略，可減少噪聲，提供的數據。其他新功能包括可提高低加速電壓 (kV) 性能的射束減速功能、Nav-CamTM 彩色圖像導航和使 Quanta FEG 係列具備更大靈活性的新型伸縮式檢測器等。