FEI Q係列掃描電鏡 的高分辨成像

對於失效分析、質量控制和材料表徵而言、Q25是經濟、的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數據。為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的、了對的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真空係統能夠快速更換樣品、允許日常、快速檢測樣品。

為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。